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怎么做半導電屏蔽層電阻率的試驗
在中、高壓電線電纜生產過程中，由于制造工藝的原因，不可避免地在導體的外表面存在尖端或突起，這些尖端或突起處的電場非常高，將會導致導體尖端或突起處絕緣的交流擊穿場強降低。眾所周知，高的電場必然導致尖端或突起向絕緣中注入空間電荷。根據最新的研究成果，注入的空間電荷將引起絕緣的電樹枝化或水樹枝化。而絕緣的外表面和金屬屏蔽之間不可避免地存在空氣間隙，在電場作用下會引發間隙放電。為了緩和電纜內部的電場集中，改善絕緣層內外表面電場應力分布，提高電纜的電氣強度，要求在導電線芯和絕緣層、絕緣層和金屬屏蔽層之間分別加有一層半導電屏蔽層，稱為導體屏蔽層和絕緣屏蔽層。
國內外學者研究表明，控制半導電屏蔽層性能是改善電纜運行特性、提高電纜運行壽命的重要技術措施，而屏蔽層電阻率是其中的一個重要指標。在IEC標準中，IEC 60840對電纜半導電屏蔽層一直有電阻率的要求，IEC 60502直到1997；年版本才增加了半導電屏蔽電阻率的試驗要求。我國中高壓電力電纜現行標準GB/T 12706-2002等效采用了IEC 60502（1997）。近年來，國內外所有的6kV及以上電力電纜均按照標準進行了導體屏蔽層和絕緣屏蔽層電阻率的試驗。
按照IEC標準和國家標準的附錄中規定的半導電屏蔽層電阻率韻測試方法進行試驗，我們發現該測試方法存在一些問題：比如按照標準所規定的，試樣放入預熱到規定溫度（90℃）的烘箱中，30min后測量電阻。但實際上不同導體截面，不同絕緣厚度的電纜，放在同一個烘箱中，經過30 min后，電纜屏蔽層實際達到的溫度是不相同的，這樣必然導致測量的結果存在很大的分散性，無法真實反映電纜屏蔽層的電氣特性；另外標準中沒有對烘箱的技術參數進行具體的規定，由于各個烘箱的熱滯后時間不同，同一個樣品放在不同制造商生產的烘箱中，在相同的短時間內，電纜屏蔽層的溫度也不相同；或者即使使用同廠同種型號的烘箱，放人試樣的多少也直接影響30 min后電纜屏蔽層的溫度高低，這樣也會導致電纜屏蔽層電氣特性測量結果的分散性。
根據屏蔽層材料的固有特性，屏蔽層材料的電阻與溫度有很大關系，測試過程中電纜屏蔽層溫度的不確定性是導致試驗結果的不確定的重要原因之一。為了能夠定量分析電纜中半導電屏蔽層電阻隨溫度和時間變化的過程，本文分別研究了國內外不同半導電屏蔽料生產的電纜樣品屏蔽層電阻與溫度的關系，以及在恒定溫度下（90 ℃）屏蔽層電阻與時間的關系，為完善IEC標準和國家標準中關于半導電屏蔽層電阻率的測試方法奠定基礎。。
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